高圧試験における温度の影響

温度変化は絶縁抵抗に大きく影響するため、外部温度が上昇し続けると、絶縁材料中の分子やイオンの動きは温度上昇とともに加速し続け、絶縁抵抗の極性が向上し、絶縁抵抗が低下します。同時に、温度上昇の過程で、絶縁抵抗中の水分子の動きも加速し続けるため、絶縁抵抗表面の不純物が速やかに溶解し、抵抗が急速に低下します。また、絶縁抵抗の低下は表面の汚れと直接関係しています。同時に、いくつかの研究データの分析によると、温度変化は変圧器の絶縁吸収率の変化にもつながります。この場合、2つのケースに分けられます。乾燥可変圧力Luの場合、吸収率は温度上昇とともに増加します。ただし、温度が40℃を超えると、吸収率は低下します。その他のケースでは、温度上昇とともに吸収率は低下します。

圧力上昇速度の影響

高電圧試験では、昇圧速度が電流漏れに影響を与えるため、試験においては、変圧器の容量に応じて柔軟に対応し、誤差の発生を可能な限り抑制することで、高電圧試験結果の精度を確保する必要がある。

変圧器のテスト例

巻線とブッシングの直流抵抗試験を例にとり、試験で注意すべき事項を簡単に説明します。変圧器の巻線はインダクタンスと相互インダクタンスが大きく、抵抗が小さいため、時定数がL/Rであることから、時定数が非常に大きいことがわかります。この場合、電流を安定させるには充電時間が非常に長くなります。したがって、一部の大型変圧器では、試験時間をできるだけ短縮する必要があります。大型変圧器の低電圧巻線の抵抗を測定する場合は、低電圧端の励磁ターン数が少ないため、直列巻線磁化法を採用でき、適切な接続方式を選択する必要があります。